☆☆☆本セミナーは、Zoomを使用して、行います。☆☆☆
開催日時:2020年7月22日(水)10:30-16:30
受 講 料:お1人様受講の場合 47,000円[税別]/1名
1口でお申込の場合 57,000円[税別]/1口(3名まで受講可能)
★本セミナーの受講にあたっての推奨環境は「Zoom」に依存しますので、ご自分の環境が対応しているか、
お申込み前にZoomのテストミーティング(http://zoom.us/test)にアクセスできることをご確認下さい。
★インターネット経由でのライブ中継ため、回線状態などにより、画像や音声が乱れる場合があります。
講義の中断、さらには、再接続後の再開もありますが、予めご了承ください。
★受講中の録音・撮影等は固くお断りいたします。
<経歴> | 2000年 慶應義塾大学 理工学研究科 後期博士課程 修了。豊橋技術科学大学助手を経て、中京大学工学部教授。画像処理の産業応用等の研究に従事。 | |
<専門> | 画像処理、マシンビジョン、ロボットビジョン。 | |
<所属学会> | 精密工学会、日本非破壊検査協会、電子情報通信学会、日本機械学会。 | |
<その他> | 日本非破壊検査協会 製造工程検査部門 運営委員 精密工学会 画像応用技術専門委員会 運営委員 画像センシング研究会 組織委員 |
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ものづくりの現場において,検査は欠くことのできない工程である.特に外観検査は,不良の流出を防ぐだけでなく,その製品や企業への信頼性を担保する上で,重要な検査工程となった.外観検査を自動化する場合,一般的には,対象ワークや検査項目に応じて,一品一様で既存の画像処理コマンドの組み合わせとパラメータ調整を行う.しかし近年,融通性の高いシステムへの要望が高まり,より汎用性の高い画像処理手法や,AI技術の活用が期待されている.
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