『個別半導体車載認定規格：
AEC-Q101,AQG324,JEITA ED-4711を
中心とした信頼性認定ガイドライン』
S191017A
開催日時：2019年12月10日（火）10:30-16:30
会 場：ミカサフォーラムエコ8F会議室（千代田区内神田1-18-12内神田東誠ビル）
受 講 料：お1人様受講の場合 46,000円[税別]／1名
1口でお申込の場合 57,000円[税別]／1口（3名まで受講可能）
瀬戸屋孝（せとやたかし） 氏
東芝デバイス＆ストレージ株式会社 品質統括責任者
／ JEITA 半導体信頼性技術委員会 主査
| ＜略歴＞ |
1983年東芝入社 以降半導体の品質、信頼性業務に従事。2013年より現職。JEITA 半導体標準化技術専門委員会 委員長、JEITA 信頼性技術委員会 主査、日科技連 信頼性品質技術研究会 副委員長、RCJ（日本電子部品信頼性センター） 理事。 |
|
EV/HEV 向けに個別半導体、特にパワーデバイスの需要は今後、飛躍的に伸びることが予測されています。パワーデバイスは、大きな電流、急激な温度変化など、通常の半導体デバイスとは異なるストレスの影響を受け、その信頼性をいかに保証するかが重要な課題となっています。
個別半導体の信頼性認定ガイドラインとしては、米国ビッグ3 が中心になって策定され、今や世界標準になっているAEC-Q101があります。AEC-Q101
は、車載用個別半導体を認定するための信頼性試験規格で、必要サンプル数の多さや試験時間の長さから評価コストが膨大になるという問題があります。その一方で、日本発の車載認定ガイドラインとしてJEITA
ED-4711 が2016年に発行され、現在、IECへ提案し国際標準化を進めています。
本セミナーでは、AEC-Q101に準拠した試験を実施する場合の留意点と、問題点、対応方法について概説します。また、今後IEC化される日本版のAEC-Q101
規格EDR-4711 について、考え方、使い方について詳細に説明します。更に、車載用半導体を製造、販売するにあたって知っておくべき国際規格として、品質システムではIATF16949、工程監査ではVDA6.3
等の規格があり、独AQG324 等も注目されています。これらの車載用集積回路認定ガイドラインの動向、各種信頼性試験の必要性と問題点と知っておくべき国際規格についても、半導体メーカの立場から詳細に解説致します。
|
1 パワーデバイスの市場動向
1.1 パワーエレクトロニクスとパワーデバイス
1.2 パワーデバイスの応用範囲
1.3 高耐圧化と低オン抵抗化の要求
2 車載用半導体に要求される信頼性
2.1 信頼性試験の目的
2.2 信頼性試験の種類と役割
2.3 個別半導体特有の故障モードと加速性
2.4 パワーサイクル試験法と不良モード
3 個別半導体の認定ガイドラインの説明
3.1 AEC-Q101の内容と考え方
＊試験の進め方、条件、問題点
3.2 JEITA ED-4711の内容と考え方
＊品質保証の考え方、サンプル数、試験条件の考え方
3.3 国際標準化の状況について
4 車載用半導体に要求される品質システム
＊IAFF16949、VDA6.3、ISO26262、AQG324等の規格概説
5 国際規格の動向
5.1 AQC-Q101、AQG324等国際車載規格の動向
5.2 国内の規格作成動向と国際規格化の動向
