1口(1社3名まで受講可能)でのお申込は、

 受講料 57,000円(税別)/1口 が格安となります。



『パワーデバイスの耐熱・耐湿性評価と
 国際規格動向』




 S180703A



開催日時:2018年9月27日(木)11:00-16:00

会  場:オーム ビル(千代田区神田錦町3-1)

受 講 料:1人様受講の場合 46,000円[税別]/1名

     1口でお申込の場合 57,000円[税別]/1口(3名まで受講可能)


新宣伝セミナー日程表


 講 師

 瀬戸屋孝(せとやたかし) 氏
 
  東芝デバイス&ストレージ株式会社 品質統括責任者
    / JEITA 半導体信頼性技術委員会 主査

 <略歴>   1983年東芝入社 以降半導体の品質、信頼性業務に従事。2013年より現職。JEITA 半導体標準化技術専門委員会 委員長、JEITA 信頼性技術委員会 主査、日科技連 信頼性品質技術研究会 副委員長、RCJ(日本電子部品信頼性センター) 理事。

 セミナーの概要

 

 EV/HEV向けにパワーデバイスの需要は今後、飛躍的に伸びることが予測されています。パワーデバイスは、大きな電流、急激な温度変化など、通常の半導体デバイスとは異なるストレスの影響を受け、その信頼性をいかに保証するかが重要な課題となっています。
 品質や信頼性を保証するには特別な評価方法、 確認方法が不可欠ですが、国際試験規格は膨大な評価サンプルが必要になるなどの問題もあります。一方、日本からは車載認定ガイドラインを発行するなどの動きも出てきています。
 本セミナーでは、パワーデバイスの動向をはじめに、信頼性試験の目的と役割、耐熱性・耐湿性評価やそのための試験法を中心に、その最新動向を、わかりやすく、かつ詳細に解説します。

 

 講義項目

 1 パワーデバイスの市場動向

  1.1 パワーエレクトロニクスとパワーデバイス
  1.2 パワーデバイスの応用範囲
  1.3 高耐圧化と低オン抵抗化の要求

 2 信頼性試験の種類と役割

  2.1 信頼性試験の目的
  2.2 信頼性試験の種類と役割
  2.3 耐湿性試験法と加速性
  2.4 静電気破壊と過電圧破壊

 3 パワーデバイス特有の不良モードと試験法

  3.1 パワーデバイスの主な故障モード 
  3.2 パワーデバイスの主な市場故障モード分類 
  3.3 車の各部位と到達温度
  3.4 パワーサイクル試験法と不良モード

 4 パワーデバイスの国際試験規格動向

  4.1 AEC-Q100/101の紹介
  4.2 AQG-324 の紹介
  4.3 JEITA ED-4701/600の紹介
  4.4 今後のパワーデバイス信頼性試験法の動向

 質疑応答




 

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